測試手機內存卡的目的及要求是什么

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冷熱沖擊試驗箱的測試手機內存卡的目的及要求為以下幾點,供參考

一、冷熱沖擊箱試驗目的：確定測試產品在周圍大氣溫度急劇變化時的適應性及被破壞性www.asliyq.com

二、冷熱沖擊試驗箱試驗條件：高溫箱（RT～150℃）低溫箱（RT～-40℃）,測試溫度保持時間為1小時或是直至試驗樣品達到溫度穩定.以時間長者為準,循環次數,針對不業不同廠家所對應的試驗要求不一樣,按照標準上的試驗方法進行測試

三、恢復：測試產品從試驗箱內取出后,要在正常的試驗大氣條件下來進行恢復,直到試驗樣品達到溫度穩定

四、冷熱沖擊試驗箱的測試手機內存卡的要求：www.asliyq.com

  a.采用高溫箱和低溫箱進行冷熱沖擊測試,以提供試驗樣品經受周圍空氣溫度急劇發生變化的環境溫度

 c.低溫區的要求,須符合GJB150.4-86《軍用設備環境試驗方法低溫試驗》的3章各條所規定的測試要求

 b.高溫區的要求,須符合GJB150.3-86《軍用設備環境試驗方法高溫試驗》的3章各條所規定的測試要求

 d.冷熱沖擊試驗箱可提供高溫試驗部分和低溫試驗部分,分別符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的3章各條所規定的測試要求

 e.試驗箱的容積須保證在試驗樣品放入候補超過試驗溫度保持時間的10%就能使試驗箱（室）溫度達到GJB150.1-89中3.2條規定的試驗條件容差范圍之內

五、冷熱沖擊試驗箱控制系統:www.asliyq.com

低溫區與高溫區轉換時間≤15s

溫度恢復時間≤5min

六、冷熱沖擊試驗箱參照標準：www.asliyq.com

GB/T2423.1.2、GJB150.4、GB/T2423.2、GB10592、GJB150.3

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